사업부문 · 3차원측정기

보이지 않는 내부까지,
손상 없이 정밀하게

방사선 없는 광학식 분광(OCT) 비파괴 단층분석과, 2D 비전+3D 구조광 하이브리드 정밀 치수측정을 함께 제공합니다.

문의하기
0.5μmZ축 반복정밀도
방사선 Zero비파괴 검사
2D+3D하이브리드 통합측정
세부 라인업
KIB TS-System

KIB TS-System

방사선 위험이 전혀 없는 광학식 분광 기술(OCT)로 제품 내부를 입체적으로 분석하는 비파괴 단층 촬영 시스템입니다.

3D 구조광 측정기

3D 구조광 측정기

고해상도 2D 비전과 정밀 구조광(Structured Light) 패턴 투사 기술을 결합한 비접촉 방식입니다. 대상물에 패턴을 투사하고 그 변형을 정밀하게 분석해, 사각지대 없이 형상 분석과 치수 측정을 동시에 수행합니다.

이런 어려움, 있으실 겁니다
01. 겉으로는 멀쩡한데 내부에 결함이 있습니다

기존 비전으로는 판독 불가능한 내부 크랙·박리·이물까지 잡아야 합니다.

02. 방사선 장비는 차폐시설이 부담입니다

안전 규제와 설치 공간 문제로 도입 자체가 어려운 경우가 많습니다.

03. 2D와 3D를 따로 도입하면 사각지대가 생깁니다

형상측정과 내부검사를 별도 장비로 나누면 검사 공백이 생깁니다.

룩스솔루션의 접근
01

결함 유형·위치 확인

어떤 내부 결함을 잡아야 하는지부터 정의합니다.

02

비파괴 방식 적용 검토

방사선 없는 광학식 분광(OCT)으로 내부를 분석합니다.

03

2D/3D 통합 구성

사각지대 없는 하이브리드 측정 라인을 설계합니다.

04

라인 연동

컨베이어·PLC 연동으로 완전 자동화 검사를 구축합니다.

도입사례
3차원측정기 부문에서 룩스솔루션이 함께 만든 도입사례입니다.
디스플레이 패널 내부 이물·크랙 검출
3차원측정기

디스플레이 패널 내부 이물·크랙 검출

자세히 보기 →
반도체 웨이퍼 크랙·칩핑 검출
3차원측정기

반도체 웨이퍼 크랙·칩핑 검출 (Z축 0.5μm)

자세히 보기 →
3차원측정기 도입사례 전체보기 →

내부까지 확인해야 안심되는 공정이라면, 지금 문의하세요.

지금 상담하기